标准号 |
是否采标 |
标准名称 |
发布日期 |
实施日期 |
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工业用丙烯腈第16部分：铁含量的测定石墨炉原子吸收法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅抛光片表面质量目测检验方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅片表面平整度测试方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅片厚度和总厚度变化测试方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅片电阻率测定扩展电阻探针法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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钨精矿化学分析方法铜量的测定火焰原子吸收光谱法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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钨精矿化学分析方法钼量的测定硫氰酸盐分光光度法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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钨精矿化学分析方法磷量的测定磷钼黄分光光度法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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钨精矿化学分析方法铁量的测定磺基水杨酸分光光度法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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香蕉穿孔线虫检疫鉴定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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拟毛刺线虫属（传毒种类）检疫鉴定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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毛刺线虫属（传毒种类）检疫鉴定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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穿刺根腐线虫检疫鉴定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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照相化学品有机物中微量元素的分析电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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酸浸取电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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多壁碳纳米管纯度的测量方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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半导体单晶晶向测定方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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硅片直径测量方法 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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片基与胶片拉伸性能的测定方法 |
2009/12/15 |
2010/6/1
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固体化学肥料包装 |
2009/11/30 |
2010/6/1
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核电站用无缝钢管第2部分：合金钢无缝钢管 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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核电站用无缝钢管第1部分：碳素钢无缝钢管 |
2009/10/30 |
2010/6/1
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采
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饰面石材用胶粘剂 |
2009/7/17 |
2010/6/1
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城镇污水处理厂污泥泥质 |
2009/7/8 |
2010/6/1
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磷酸一铵、磷酸二铵 |
2009/11/30 |
2010/6/1
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